Nos prestations labo vous accompagnent à chaque étape de vos développements électroniques.
Vous êtes :
- Fabricant des composants microélectroniques : MEMS, capteurs, passifs, discrets
- Assembleur / intégrateur électronique (EMS)
- Équipementier, constructeur ou exploitant : aéronautique, spatial, défense, transports, énergies, télécom
Appuyez-vous sur notre équipe de techniciens et ingénieurs. Elle vous apportera toute sa réactivité et expertise pour répondre aux enjeux propres à votre fonction. Nous accompagnons l’essentiel de vos métiers liés à l’électronique haute fiabilité :
- Conception : évaluation & sélection des technologies (matériaux, composants et assemblages)
- Industrialisation : méthodes & procédés
- Qualité : AQP, AQF, SAV
- Laboratoire intégré : essais, analyses, diagnostic
Notre offre de services Labo capitalise sur les compétences de notre équipe et sur nos moyens techniques – avec le large soutien du CNES, à travers le laboratoire commun CNES-ELEMCA – pour intervenir sur vos secteurs de pointe – tout particulièrement le semiconducteur, l’assemblage des circuits imprimés (PCBA) et le spatial.

Composants | passifs • discrets • SiP • MEMS
Equipements dédiés à la microélectronique :
- Lock-in Thermography, micro-tomographie X hautre résolution, PHEMOS
- FIB (Ga, Plasma), polisseuse ionique, laser
- MEB-EDX / EBSD, STEM, TEM, AFM
Simulation numérique (ex : warpage du wafer lors du process)






Espace | legacy • new space
Qualification de cartes assemblées selon ECSS-Q-ST-70-61C *ELEMCA est recommandé par l'ESA*
Analyses de construction & DPA de composants selon ECSS-Q-ST-60-13C
Essais environnementaux [-180°C ; +300°C] sous vide thermique ou flux N2
Tests de dégazage (TML, CVCM) selon ECSS-Q-70-02
Propriétés thermomécaniques des polymères (CTE, Tg, viscosité, taux de réticulation) [-150°C ; + 900°C]
Agences


Primes / Legacy



New space





EMS | assemblage • intégration électronique
Qualification des circuits imprimés selon IPC-A-610
Essais SIR selon IPC-TM-650
Contrôle d’entrée de composants (détection de contrefaçon) selon IDEA-STD-1010, AS6171A, ISO 2859-1
Pôle microscopie optique (coupes micrographiques, mesures IMC) : certification ISO 17025/COFRAC en cours






LABORATOIRE D'ANALYSES TECHNOLOGIQUES ET DE DEFAILLANCE
→ évaluer un composant électronique, choix de conception et production (structure et matériaux)
→ obtenir un diagnostic clair suite à l'apparition de défaillances (retour terrain, arrêt de production, etc.)

Caractérisation électrique
Sur carte assemblée, composant packagé ou puce nue
Vérification des performances
Identification des dysfonctionnements

Localisation de défaut non-destructive
Sans découpe de la carte ni ouverture du composant
Tomographie X • Thermographie IR • PHEMOS/OBIRCH

Préparation d'échantillon
Accès à la zone d'intérêt ou au défaut sans l'altérer
FIB (Ga / Plasma) • Laser • polisseuse ionique • microsection


Imagerie optique et électronique
Observer et identifier les empilements et matériaux Caractériser le défaut pour en expliquer l'origine
Microscopie optique • MEB / TEM • EDX / EBSD • AFM
Après une investigation complète, nos spécialistes Matériaux & Électronique vous exposent, dans un rapport détaillé, l’intégralité des informations technologiques ou la cause racine de défaillance du produit analysé.
Vous connaissez les choix de conception/fabrication ou le point faible de votre produit (conception, assemblage, intégration, usage) pour en tirer des choix éclairés et pertinents : sélection du composant ou application d’une solution corrective efficace.
LABORATOIRE DE QUALIFICATION ET DE FIABILITE
→ contrôler la conformité de mes circuits imprimés nus ou assemblés
→ valider l'authenticité de composants issus d'une source douteuse
→ estimer la durée de vie de mon produit face à ses profils de mission (calcul ou essais expérimentaux)

Qualité des circuits imprimés nus ou assemblés
PCBA : IPC-A-610, ECSS-Q-ST-70-61C PCB : IPC-A-600, ECSS-Q-ST-70-60C
Inspection externe • RX2D • coupes micrographiques (IMC)


Contrôles de lots brokers
IDEA-STD-1010, AS6171A, ISO 2859-1
Inspection externe • RX2D • ouverture package + inspection interne (puce)

Essais thermiques et climatiques
MIL-STD-883, JEDEC JESD22, IEC 60749, IEC 60068-2
Cyclage thermique [-180°C ; +300°C] • chocs thermiques [-80°C ; +220°C] • chaleur humide 85%RH 85°C • vide thermique -180°C

Modélisation et simulation numérique
Thermique : cartographie des points chauds Thermomécanique : déformation lors du procédé (refusion, intégration mécanique...) ou de l'utilisation Mécanique : modes de résonance
Nos contrôles (inspections visuelles, radiographie X, microsections : coupes micrographiques / coupes métallographiques) et essais (cyclage thermique, chaleur humide, vide thermique) sont réalisés en accord avec une large base normative (ECSS, IEC, IPC, JEDEC, MIL-STD ou standards Clients).
Vous vous assurez de la conformité de vos cartes électroniques ou de l’authenticité de vos lots de composants à risque.